RITS 2010年上期技术成果、改善成果发表会分别于2010年5月19日和2010年5月21日在深圳和上海召开。上海总公司及深圳分公司的全体员工出席了技术成果及改善发表会。
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《Quanp的性能改善》 |
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《操作部检查治具的共通化设计》 |
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《Rinmei相关课题解析和对策》 |
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《测试式样书作成信息的可视化》 |
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《ISO管理系统的改善活动》 |
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《全社License共通管理强化相关的改善》 |